Intel® In-Field Scan untuk Prosesor Intel® Xeon® Generasi ke-5 Meningkatkan Manajemen Armada Server
Jenis Konten: Instal & Pengaturan | ID Artikel: 000099537 | Terakhir Ditinjau: 31/01/2025
Prosesor Intel® Xeon® yang Dapat Diskalakan Generasi ke-5, yang sebelumnya diberi nama kode Emerald Rapids, memperkenalkan kemampuan Keandalan, Ketersediaan, dan Kemampuan Servis (RAS) baru yang disebut Intel® In-Field Scan. Ini adalah keluarga alat yang dirancang untuk membantu administrator sistem dengan cepat dan mudah menemukan prosesor yang telah gagal dari waktu ke waktu. Intel® In-Field Scan memiliki peta rencana kemampuan yang akan disertakan pada prosesor saat ini dan yang akan datang. Scan-at-Field (SAF) dan Array Built In Self Test (BIST) adalah dua fitur pertama dalam rangkaian In-Field Scan, dan keduanya tersedia pada prosesor Intel® Xeon® Generasi ke-5.
Intel® In-Field Scan bersifat minimal intrusif dan dirancang untuk menguji satu inti dengan cepat, sementara semua inti lainnya dalam node terus menjalankan beban kerja pelanggan.
Scan* adalah metode standar industri untuk mendeteksi kesalahan pada perangkat semikonduktor. Hingga saat ini, pemindaian telah digunakan oleh alat uji khusus di pabrik pembuatan chip. Intel menggunakan pemindaian untuk menguji prosesor selama Manufaktur Volume Tinggi (HVM).
Scan-At-Field memungkinkan pelanggan menjalankan subset pengujian pemindaian manufaktur Intel untuk memeriksa kesalahan pada masing-masing inti pemrosesan. Dengan menggunakan pola pengujian yang disediakan Intel (disebut Gambar Uji Pindai), setiap inti dalam paket prosesor dapat diuji secara independen untuk mengonfirmasi pengoperasian yang tepat.
Array BIST memeriksa cache L1 (Level 1) dan L2 (Level 2) dan banyak file register dan array data di setiap inti. Menjadi Built In Self Test (BIST), tidak ada gambar uji untuk dimuat; Semua pengujian dikoordinasikan oleh modul pengujian khusus di setiap inti.
Tinjauan teknis tingkat tinggi tentang SAF dan ArrayBIST disediakan dalam makalah teknis Menemukan Komponen yang Rusak dalam Lingkungan Armada Langsung. Detail tentang persyaratan sistem dan cara menjalankan Pemindaian Di Lapangan disediakan dalam Panduan Pengaktifan prosesor Intel® In-Field Scan untuk prosesor Intel® Xeon® Generasi ke-5.
Intel® In-Field Scan merupakan langkah maju yang penting dalam domain keandalan dan ketersediaan layanan, karena memungkinkan pelanggan menggunakan kemampuan pengujian industri untuk secara cepat mengidentifikasi unit yang cacat dalam armada mereka.
Ada persyaratan perangkat keras dan perangkat lunak untuk mengaktifkan Intel® In-Field Scan pada platform. Di bawah ini adalah ringkasan persyaratan.
Intel® In-Field Scan dirancang dan dioptimalkan untuk digunakan oleh administrator sistem guna menguji armada secara berkala guna memastikan prosesor beroperasi dengan benar. Intel® In-Field Scan menyediakan administrator sistem dengan pengujian prosesor yang sangat cepat yang dapat dijalankan pada node langsung (artinya node yang online dan menjalankan aplikasi pengguna) tanpa mengganggu operasi seluruh node. Dalam hal ini, istilah sangat cepat berarti ~ 200ms atau kurang.
Pengujian berkala armada direkomendasikan untuk menemukan komponen yang gagal dari waktu ke waktu. Seberapa sering untuk menguji armada dan seberapa luas tes untuk dijalankan adalah pertanyaan yang kompleks. Banyak variabel ikut bermain, misalnya: Berapa lama prosesor telah berjalan; berapa tingkat Kegagalan dalam Waktu (FIT) 2 prosesor yang diprediksi; apa toleransi pelanggan terhadap SDE (Silent Data Errors); dan jumlah waktu yang bersedia dicurahkan administrator sistem untuk pemeliharaan sistem proaktif.
Makalah teknis Menemukan Komponen yang Rusak dalam Lingkungan Armada Langsung memberikan pertimbangan dan contoh seberapa sering Pemindaian Di Lapangan dapat dijalankan.
® Panduan Intel In-Field Scan for 5th Generation Intel Xeon Processor Enabling memiliki informasi terperinci tentang cara menjalankan dan menguji serta memahami hasil.
Gambar Uji Pemindaian Dalam Lapangan Intel® untuk prosesor Intel® Xeon® Generasi ke-5 dan instruksi untuk memeriksa versi atau memuat gambar baru diposting ( akun NDA diperlukan - Cara Mendaftar untuk Pusat Sumber Daya dan Dokumentasi Intel®).
Aplikasi Pemindaian Dalam Lapangan Intel® telah diposting (akun NDA diperlukan - Cara Mendaftar untuk Pusat Sumber Daya dan Dokumentasi Intel®).
Dalam armada dengan ratusan ribu, atau jutaan, prosesor, kegagalan dapat terjadi secara teratur. Menemukan cacat ini secepat mungkin adalah kunci untuk meminimalkan gangguan pada operasi pelanggan.
Intel memimpin industri dengan menyediakan beberapa alat dan peta rencana fitur, untuk menguji prosesor guna operasi yang benar. Intel® In-Field Scan memperluas kemampuan pengujian ini untuk meningkatkan manajemen armada oleh administrator sistem.
Intel juga menawarkan Intel® Data Center Diagnostic Tool (Intel® DCDiag). Intel® DCDiag adalah serangkaian pengujian yang secara metodis memeriksa sebagian besar fungsionalitas SoC, termasuk setiap inti mikroprosesor. Dengan memverifikasi bahwa setiap perhitungan DCDIAG sudah benar, dan tidak hanya memastikan bahwa tes menyelesaikan eksekusi dengan benar, DCDIAG mampu mendeteksi banyak jenis kesalahan, termasuk yang bermanifestasi sebagai Kesalahan Data Senyap. Untuk informasi lebih lanjut tentang Intel® DCDiag, kunjungi tautan ini.
Intel® In-Field Scan dan Intel® DCDiag adalah alat pengujian yang saling melengkapi. Intel® In-Field Scan bersifat minimal intrusif dan dirancang untuk menguji satu inti dengan cepat, sementara semua inti lainnya dalam node terus menjalankan beban kerja pelanggan. Intel® DCDiag adalah rangkaian pengujian prosesor yang komprehensif dan paling efektif ketika seluruh node pemrosesan didedikasikan untuk pengujian. Karena alat menjalankan konten pengujian yang berbeda, Intel telah menemukan bahwa setiap alat mengidentifikasi kegagalan yang berbeda di seluruh prosesor yang diuji.
Nota: Tidak semua SKU Prosesor Intel® Xeon® Generasi ke-5 mendukung Intel® In-Field Scan.