Gangguan Acara Tunggal (SEU)
Gangguan peristiwa tunggal adalah efek yang tidak diinginkan dalam keadaan kait atau sel memori perangkat semikonduktor yang disebabkan oleh radiasi.
Pengenalan
Single event upset (SEU) disebabkan oleh serangan radiasi pengion pada elemen penyimpanan, seperti sel memori konfigurasi, memori pengguna, dan register. Dalam aplikasi terestrial, sumber radiasi pengion utama yang menjadi perhatian adalah partikel alfa yang dipancarkan dari kotoran radioaktif dalam bahan, neutron berenergi tinggi yang dihasilkan oleh interaksi sinar kosmik dengan atmosfer bumi dan neutron termal yang dalam banyak kasus adalah neutron berenergi tinggi termalisasi tetapi juga dapat diproduksi dalam peralatan buatan manusia. Studi yang dilakukan selama 20 tahun terakhir telah menyebabkan bahan paket kemurnian tinggi meminimalkan efek SEU yang disebabkan oleh radiasi partikel alfa. Neutron atmosfer yang tidak dapat dihindari tetap menjadi penyebab utama efek SEU saat ini. Kesalahan lunak bersifat acak dan terjadi sesuai dengan probabilitas yang terkait dengan tingkat energi, fluks, dan kerentanan sel.
Intel telah mempelajari efek SEU pada perangkatnya selama beberapa generasi proses dan telah membangun pengalaman yang luas baik dalam pengurangan tingkat kesalahan lunak melalui tata letak fisik dan teknologi proses yang dioptimalkan SEU, maupun dalam teknik mitigasi kesalahan lunak. Intel memperkenalkan pemeriksaan redundansi siklus otomatis (CRC) pertama di industri dan menghapus logika tambahan dan persyaratan kompleksitas yang umum untuk solusi pemeriksaan kesalahan lainnya. Rangkaian perangkat Intel® semuanya diuji untuk perilaku dan performa SEU menggunakan fasilitas seperti Los Alamos Weapons Neutron Research (WNR) menggunakan prosedur pengujian standar yang ditentukan oleh spesifikasi JESD-89 JEDEC.
Pengujian SEU Intel® FPGAs di Los Alamos Neutron Science Center (LANSCE) telah mengungkapkan hasil berikut:
- Tidak ada kesalahan SEU yang diamati dalam sirkuit CRC keras dan register I / O untuk semua produk, selain Stratix 10.
- Ada Mean Time Between Functional Interrupt (MTBFI) ratusan tahun, bahkan untuk FPGAs yang sangat besar dan berdensitas tinggi.
Rangkaian FPGA seri Intel® Stratix®, seri Arria® GX, dan Cyclone® dilengkapi sirkuit keras khusus bawaan untuk memeriksa CRC secara terus-menerus dan otomatis tanpa biaya tambahan. Untuk produk yang diproduksi dengan teknologi proses 28 nm dan node proses berikutnya, Intel telah menerapkan koreksi bit upset CRAM (scrubbing) selain deteksi dan koreksi kesal bit CRAM yang ditingkatkan. Anda dapat dengan mudah mengatur pemeriksa CRC melalui perangkat lunak desain Intel® Quartus® Prime.
Untuk informasi lebih lanjut mengenai teknik mitigasi lainnya dan untuk detail lebih lanjut tentang pengujian SEU perangkat Intel FPGA, hubungi perwakilan penjualan atau distributor Intel setempat.
Dokumentasi
Dokumentasi dikategorikan berdasarkan tahapan siklus hidup produk.
Isi halaman ini adalah kombinasi terjemahan manusia dan komputer dari konten berbahasa Inggris. Konten ini diberikan hanya untuk kenyamanan Anda serta sebagai informasi umum dan tidak bisa dianggap sebagai lengkap atau akurat. Jika terdapat kontradiksi antara versi bahasa Inggris halaman ini dan terjemahannya, versi bahasa Inggris akan didahulukan. Lihat versi bahasa Inggris halaman ini.